Aktualności
Autor: System Publikacja: 13.09.2017
Konferencja „Mechatronics: Ideas for Industrial Applications”
Rusza czwarta edycja Międzynarodowej Konferencji Naukowej „Mechatronics: Ideas for Industrial Applications”. Wydarzenie rozpocznie się dziś o godz. 10.45 w auli B Centrum Edukacyjno-Kongresowego Politechniki Śląskiej.
Tegoroczna edycja konferencji M:IfIA’2017 jest organizowana pod auspicjami Wydziału Mechanicznego Technologicznego Politechniki Śląskiej, Komitetu Budowy Maszyn Polskiej Akademii Nauk oraz Polskiego Towarzystwa Mechaniki Teoretycznej i Stosowanej. Honorowy patronat nad konferencją objął rektor Politechniki Śląskiej prof. Arkadiusz Mężyk.
Po inauguracyjnej sesji plenarnej przewidziana jest możliwość odwiedzenia wybranych laboratoriów mechatroniki Wydziału Mechanicznego Technologicznego. Organizatorzy serdecznie zapraszają wszystkich zainteresowanych do udziału w tym spotkaniu naukowym.
Dalsza część konferencji odbędzie się w Wiśle-Jaworniku i będzie trwała do piątku, 15 września.
Ważnym elementem konferencji M:IfIA’2017 będzie prezentacja partnerów przemysłowych Wydziału Mechanicznego Technologicznego, działających w obszarach szeroko rozumianej mechatroniki. W holach Centrum Edukacyjno-Kongresowego oraz w hotelu Stok w Wiśle partnerzy wydziału przygotowali stoiska reklamujące działalność firm. Przewidziane są także wystąpienia podczas sesji, pokazujące najciekawsze osiągnięcia, produkty, aplikacje czy też projekty związane z przemysłowymi zastosowaniami mechatroniki.
Ważnym elementem konferencji M:IfIA’2017 będzie prezentacja partnerów przemysłowych Wydziału Mechanicznego Technologicznego, działających w obszarach szeroko rozumianej mechatroniki. W holach Centrum Edukacyjno-Kongresowego oraz w hotelu Stok w Wiśle partnerzy wydziału przygotowali stoiska reklamujące działalność firm. Przewidziane są także wystąpienia podczas sesji, pokazujące najciekawsze osiągnięcia, produkty, aplikacje czy też projekty związane z przemysłowymi zastosowaniami mechatroniki.
Szczegółowe informacje na temat konferencji M:IfIA’2017 można znaleźć tutaj.
Więcej aktualności
